-
衰減振蕩波磁場發(fā)生器
衰減振蕩波磁場發(fā)生器是一款在性能上完全滿足IEC61000-4-10以及GB/T 17626.10標(biāo)準(zhǔn)要求的儀器。*高輸出衰減振蕩波磁場強(qiáng)度達(dá)到100A/m，足以覆蓋絕多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)中*高等級(jí)的要求。
查看詳情
-
靜電放電校準(zhǔn)標(biāo)靶
靜電放電校準(zhǔn)標(biāo)靶用于靜電放電發(fā)生器的電流波形校準(zhǔn)。
查看詳情
-
購電卡（IC卡）靜磁場測試儀
購電卡（IC卡）靜磁場測試儀模擬一個(gè)**的可量化的靜磁場干擾區(qū)域，用以檢測受試設(shè)備（EUT）在標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的靜磁場強(qiáng)度下，是否會(huì)造成集成電路等器件的失效和數(shù)據(jù)的丟失。是考察EUT抵抗靜磁場干擾能力的一種有效方式。滿足GJB 548b-2005、GB/T 14916—2006、ISO7816-1234和相關(guān)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)及電力行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)等。
查看詳情
-
計(jì)量箱靜載能力測試儀
計(jì)量箱靜載能力測試儀是一款完全滿足Q/GDW 11008-2013低壓計(jì)量箱技術(shù)規(guī)范內(nèi)靜載能力試驗(yàn)的設(shè)備。
查看詳情
-
購電卡（IC卡）三維靜電放電測試儀
購電卡（IC卡）三維靜電放電測試儀模擬人或物體的靜電放電過程，用以檢測受試設(shè)備（EUT）抵抗靜電放電的抗干擾能力。能夠檢測購電卡內(nèi)部的芯片等器件是否會(huì)受到外部靜電的影響。由于不同種類的IC卡表面的接觸引腳可能封裝方式不同而呈現(xiàn)不同的布局形式，因此本設(shè)備的三維運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)在程序的幫助下可以實(shí)現(xiàn)“即學(xué)即用”。即根據(jù)用戶現(xiàn)場的卡片類型，使用設(shè)備內(nèi)部的激光定位瞄準(zhǔn)十字光標(biāo)，對(duì)卡片的接觸引腳進(jìn)行定位和學(xué)習(xí)，試驗(yàn)過程中設(shè)備將根據(jù)學(xué)習(xí)的數(shù)據(jù)進(jìn)行自動(dòng)位移和靜電釋放，完成IC卡所有引腳的靜電放電操作。
查看詳情
-
沖擊載荷試驗(yàn)儀
沖擊載荷試驗(yàn)儀（沖擊載荷測試儀）完全滿足Q/GDW 11008-2013低壓計(jì)量箱技術(shù)規(guī)范內(nèi)對(duì)沖擊載荷試驗(yàn)的要求。是一款用于檢測計(jì)量箱等其他箱體的耐沖擊載荷強(qiáng)度的一款設(shè)備，可實(shí)現(xiàn)輸入箱體尺寸后自動(dòng)計(jì)算測試距離，完成一鍵測試。完全滿足國網(wǎng)企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)要求以及國家標(biāo)準(zhǔn)要求。
查看詳情
-
IR46電能表紫外老化試驗(yàn)箱
IR46電能表紫外老化試驗(yàn)箱，采用原裝進(jìn)口專業(yè)熒光UVA340紫外燈管，模擬太陽光中的紫外光線部分，并結(jié)合控溫、冷凝、淋雨等裝置，可以快速、真實(shí)地再現(xiàn)陽光、雨水、露水等氣候所產(chǎn)生的破壞程度。并經(jīng)過控制的陽光和濕氣的交互循環(huán)，同時(shí)用提高溫度的方式來進(jìn)行測試，只需要幾天或幾周的時(shí)間，即可模擬到戶外需要數(shù)月乃至數(shù)年所產(chǎn)生的破壞效果。完全符合IR46標(biāo)準(zhǔn)對(duì)電能表的紫外線老化測試要求。
查看詳情
-
IR46電能表鹽霧試驗(yàn)箱
IR46電能表鹽霧試驗(yàn)箱是模擬大氣中含鹽微小液滴所構(gòu)成的鹽霧彌散海洋性氣候的鹽霧腐蝕試驗(yàn)設(shè)備，產(chǎn)品性能指標(biāo)完全滿足*新IR46標(biāo)準(zhǔn)對(duì)電能表鹽霧試驗(yàn)的要求。
查看詳情
